Firma Labsoft przeprowadza szkolenia obsługowe, operatorskie i aplikacyjne z zakresu skaningowej (SEM) i skaningowej jonowej (FIB) mikroskopii elektronowej. Poziom szkoleń zależy od zagadnienia, ale w ogólności może być podstawowy, rozszerzony i/lub specjalistyczny. Głównym celem jest przygotowanie użytkownika do pełnego wykorzystania możliwości badawczych mikroskopów SEM i SDB oraz zwrócenie uwagi na dobór parametrów wiązki oraz trybu pracy na potrzeby prowadzonych badań. W chwili obecnej przeprowadzamy szkolenia m.in. z obrazowania próbek nieprzewodzących, wykonywania eksperymentów in-situ, przygotowania lamelek TEM oraz technik analizy składu fazowego EDS/WDS/EBSD. Oferujemy również wsparcie aplikacyjne przy badaniach próbek użytkownika, zwłaszcza w zakresie doboru parametrów wiązki elektronowej i jonowej. Szkolenia odbywają się w laboratorium oraz z wykorzystaniem mikroskopów i próbek użytkownika, ale możliwe są również inne opcje. W przypadku zainteresowania szkoleniami, prosimy o kontakt z naszymi specjalistami aplikacyjnymi. Pozwoli nam to rozpoznać Państwa potrzeby, ustalić indywidualny zakres zagadnień oraz dobrać optymalny czas trwania i program szkolenia.

formularz kontaktowy