SPIP firmy Image Metrology to zaawansowany pakiet oprogramowania do przetwarzania i precyzyjnej analizy obrazów mikroskopowych. Pakiet obsługuje obrazy z mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, AFM, STM, SNOM, etc.), mikroskopów elektronowych (SEM, TEM), mikroskopów świetlnych (LM) oraz profilometrów. Podstawowe funkcje pakietu to filtrowanie szumów, wyostrzanie, wyodrębnianie, kalibracja, analiza fourierowska, detekcja oraz analiza dystrybucji cząstek, ziaren i porów, analiza szorstkości powierzchni, wizualizacja oraz komponowanie i tworzenie raportów, w tym w sposób automatyczny. Oprogramowanie jest wydajne, łatwe w obsłudze, posiada kompletny zestaw funkcji i narzędzi, odczytuje wiele formatów plików, a wygodny interfejs użytkownika zapewnia prostą obsługę. Oprócz pomocy w postaci prezentacji wideo użytkownik ma zapewnione profesjonalne wsparcie techniczne. SPIP jest obecnie wykorzystywany w wielu ośrodkach uniwersyteckich (1200 publikacji) oraz w przemyśle – głównie kosmetycznym, farmaceutycznym, metalurgicznym i półprzewodnikowym. Istnieje możliwość pobrania wersji demonstracyjnej.

Wszystkich zainteresowanych zapraszamy do kontaktu poprzez formularz kontaktowy

Filmy z przykładowymi zastosowaniami SPIP: