Poniżej przedstawiamy listę książek, artykułów przeglądowych oraz prezentacji on-line związanych z mikroskopią AFM/STM, które naszym zdaniem mogą okazać się przydatne użytkownikom tych mikroskopów. Lista będzie sukcesywnie uzupełniana w czasie. Po kliknięciu w nazwę materiału zostaniecie Państwo przekierowani na odpowiednią stronę internetową; w przypadku książek jest to serwis Google Books.

Wiedza podstawowa:

Bruker Guide to SPM & AFM Modes – krótki opis wszystkich trybów pomiarowych dostępnych w mikroskopach SPM i AFM. Opis każdego trybu zawiera podstawę działania, schemat układu akwizycji, przykładowy obraz i typy przeznaczonych do niego sond firmy Bruker.

Szkolenia online:

AFM & Optical Training Courses – szkolenia w postaci webinarów dla użytkowników mikroskopów AFM i profilometrów firmy Bruker. Szklenia mają charakter aplikacyjny i niejednokrotnie poruszają zaawansowane zagadnienia. Wiele z nich dotyczy również oprogramowania i obróbki wyników. Każde ze szkoleń trwa ok. 1,5 godziny. Oprócz bieżących szkoleń, które wymagają bezpłatnej rejestracji, dostępne jest bogate, otwarte archiwum webinarów.

Fora:

The Nanoscale World – ogólnodostępna strona poświęcona wymianie informacji i doświadczeń na temat nantechnologii, prowadzona przez Bruker Nano Surface Business. Strona zawiera forum przydatne użytkownikom mikroskopów SPM różnych producentów. Oprócz tego dostępne są tu noty aplikacyjne, broszury i prezentacje online związane z produktami firmy Bruker. Dostęp do nich uzyskuje się poprzez linki w górnej części strony.

Książki:

G. Haugstad, Atomic Force Microscopy: Understanding Basic Modes and Advanced Applications, Wiley 2012

R. Garcia, Amplitude Modulation Atomic Force Microscopy, Wiley-VCH 2010

P. C. Braga (ed.), D. Ricci (ed.), Atomic Force Microscopy: Biomedical Methods and Applications, Humana Press Inc. 2004

E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy: The Lab on a Tip, Springer-Verlag 2004

F. Marinello (ed.), D. Passeri (ed.), E. Savio (ed.), Acoustic Scanning Probe Microscopy, Springer 2012

V. V. Tsukruk, S. Singamaneni, Scanning Probe Microscopy of Soft Matter: Fundamentals and Practices, Wiley-VCH 2012

Artykuły przeglądowe w czasopismach:

Three decades of scanning tunnelling microscopy that changed the course of surface science – specjalne wydanie Journal of Physics D: Applied Physics (44, 2011) z okazji 30 rocznicy powstania mikroskopu STM. Wydanie zawiera 11 artykułów przeglądowych, które dotyczą STM oraz innych technik SPM. Pełen dostęp dla instytucji z wykupionym abonamentem do bazy IoP Science.

Dynamic atomic force microscopy methods – artykuł przeglądowy autorstwa R. Garcia i R. Perez opublikowany w Surface Science Reports 47 (2002) 197-301. Zawiera szczegółowe informacje odnośnie podstaw fizycznych i praktyki mikroskopii AFM w trybach kontaktu przerywanego (tapping mode) i bezkontaktowym. Ze względu na przejrzyste przedstawienie tematu zalecany również użytkownikom, dla których AFM nie jest główną techniką badawczą. Pełen dostęp dla instytucji z wykupionym abonamentem do bazy ScienceDirect.

Prezentacje on-line:

AFM Webinars – strona z darmowym dostępem do seminariów internetowych z tematyki AFM o różnym stopniu zaawansowania, które są cyklicznie organizowane przez firmę Bruker. Seminaria archiwalne (od 2012) dostępne są w postaci nagrań wideo i/lub prezentacji. Nowe seminaria odbywają się w czasie rzeczywistym.

PeakForceTapping – prezentacja pt. “Empowering today’s nanoscale research with Peak Force Tapping” na temat możliwości badawczych trybów związanych z technologią PeakForceTapping. Jest ona dostępna w mikroskopach SPM firmy Bruker.

Listy publikacji:

PeakForceTapping – lista dotychczasowych publikacji, w których opisywane wyniki badań naukowych zostały uzyskane z wykorzystaniem technologii PeakForceTapping  (PFT). Technologia ta jest dostępna w mikroskopach SPM firmy Bruker. Wg stanu na luty 2014 lista obejmuje 350 publikacji z zakresu wszystkich głównych dziedzin badawczych, z czego aż 30% znajduje się wśród 10% czasopism o najwyższym współczynniku Impact Factor. W 75% tych publikacji opublikowano rozkłady właściwości mechanicznych uzyskane w trybie PeakForce QNM, a nie obrazy topografii powierzchni.