SPIP firmy Image Metrology to zaawansowany pakiet oprogramowania do przetwarzania i precyzyjnej analizy obrazów mikroskopowych. Pakiet obsługuje obrazy z mikroskopów ze skanującą sondą (SPM, AFM, STM, SNOM, etc.), mikroskopów elektronowych (SEM, TEM), mikroskopów świetlnych (LM) oraz profilometrów. Podstawowe funkcje pakietu to filtrowanie szumów, wyostrzanie, wyodrębnianie, kalibracja, analiza fourierowska, detekcja oraz analiza dystrybucji cząstek, ziaren i porów, (…)