DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

14-09-2013
W dniach 16-17 września 2013 w Instytucie Metalurgii i Inżynierii Materiałowej PAN w Krakowie odbędzie się seminarium Materials Science TEM/SEM/EDS FEI/EDAX User Meeting. Seminarium poświęcone jest technikom mikroskopii elektronowej skaningowej (SEM) i transmisyjnej (TEM), ze szczególnym uwzględnieniem metod analizy składu chemicznego i fazowego. Wykłady będą prowadzone przez specjalistów aplikacyjnych firmy FEI, EDAX i Labsoft oraz przez pracowników Instytutu.
Pełny program seminarium – IMIM_TEM SEM EDS UM Programme.
Link do informacji o seminarium na stronach Instytutu.