DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

01-03-2014
Leica Microsystems oraz Labsoft zapraszają na warsztaty „Zaawansowane metody preparatyki dla mikroskopii elektronowej” poświęcone przygotowaniu materiałów typowych dla inżynierii materiałowej do badań metodami mikroskopii elektronowej.
Warsztaty obejmują wykłady oraz sesje praktyczne i zostaną poprowadzone przez specjalistów aplikacyjnych firmy Leica – Roberta Rannera oraz Markusa Wolfa. W trakcie ich trwania będzie można zapoznać się z urządzeniami do preparatyki firmy Leica: EM TIC 3X , EM RES 102 oraz EM TXP.
Warsztaty odbędą się w dniu 6 III 2014 na terenie Wrocławskiego Centrum Badań EIT+ przy ul. Stabłowickiej 147, 54-066 Wrocław.
Uczestnictwo w warsztatach jest bezpłatne. Wszystkich zainteresowanych prosimy o kontakt z Maciejem Wocialel [mw(at)labsoft.pl].