DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

07-05-2020
Szanowni Państwo,
W dniu 14 maja (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.
TOF-SIMS 101: Introduction, Ion Beams, MS/MS, and Materials Applications
Udział w webinarium jest bezpłatny. Dodatkowe informacje w języku angielskim oraz link rejestracyjny znajdują się tutaj.
Prezentacja będzie poświęcona podstawom fizycznym i sprzętowym, możliwościom i zastosowaniu spektrometrii masowej z czasem przelotu (TOF-SIMS). Technika TOF-SIMS dostarcza informacji o składzie pierwiastkowym i chemicznym z bardzo wysoką czułością z powierzchni próbki, a po zastosowaniu dział rozpylających również z kilkudziesięciu mikrometrów w głąb. W szczególności, zostaną omówione:
Physical Electronics (PHI) to wiodący producent spektrometrów XPS, AES i TOF-SIMS do analizy powierzchni próbki.
Wszystkie prezentacje i webinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje.
XPS/HAXPES:
ToF-SIMS:
AES:
Techniki komplementarne:
Właściwości elektronowe: