DYFRAKTOMETRY XRD, SCXRD,
SPEKTROMETRY EDXRF, WDXRF, μXRF
Szeroka gama proszkowych i monokrystalicznych dyfraktometrów oraz spektrometrów XRF i microXRF.

14-04-2020
Szanowni Państwo,
W dniu 16 kwietnia (czwartek) 2020 o godz. 17.00 firma Physical Electronics (PHI) organizuje webinarium pt.
Avoiding misinterpretations in the spectroscopic analysis of heterogeneous materials: the role of small area XPS analysis
Udział w webinarium jest bezpłatny. Link rejestracyjny znajduje się tutaj.
Prezentacja będzie poświęcona możliwościom spektrometrów XPS z małą i skanującą wiązką promieniowania X w porównaniu do spektrometrów z wiązką dużą i stacjonarną. Przewaga spektrometrów skanujących jest wyraźna na próbkach niejednorodnych powierzchniowo. Możliwość uzyskania obrazu powierzchni poprzez detekcję elektronów wtórnych (generowanych wiązką rentgenowską) daje możliwość łatwego wyszukiwania cech na próbce do dalszej analizy XPS. Ponadto, możliwe jest mapowanie składu chemicznego z rozdzielczością lateralną na poziomie średnicy wiązki (tu ~10 µm). Dla odmiany, analiza XPS przy pomocy dużej i statycznej wiązki daje jedynie wynik uśredniony po jej średnicy. W prezentacji zostaną pokazane liczne przykłady analizy XPS próbek niejednorodnych – z zanieczyszczeniami powierzchniowymi, po testach tribologicznych i korozyjnych, przekroje multiwarstw i wreszcie małe obiekty w innych matrycach/osnowach.
Dodatkowe informacje w języku angielskim można znaleźć tutaj.
Wspomniana technologia dająca możliwość uzyskania rentgenowskiej wiązki skanującej jest dostępna we wszystkich spektrometrach XPS firmy PHI – czołowego dostawcy spektrometrów fotoemisyjnych, AES i ToF-SIMS.
Wszystkie prezentacje i webinary PHI można znaleźć na kanale YT. Obecnie dostępne są następujące pozycje.
XPS/HAXPES:
ToF-SIMS:
AES:
Techniki komplementarne:
Właściwości elektronowe: