Kompletne portfolio mikroskopów sił atomowych (AFM)
BRUKER NANO
W naszych mikroskopach dostępne są wszystkie tryby pracy do obrazowania i analizy właściwości próbek materiałowych i biologicznych. Firma konsoliduje i rozwija doświadczenie pionierskich marek DI, Veeco Metrology, JPK, czy Hysitron, stale poprawiając możliwości i ergonomię urządzeń.
Dostarczamy pełny asortyment sond do mikroskopii sił atomowych dla wszystkich oferowanych trybów pracy.
Mikroskopy sił atomowych – AFM
-
Dimension FastScan
Szybkoskanujący i w pełni zautomatyzowany AFM do dużych próbek.
- najnowszy kontroler NanoScope 6
- szybkoskanujący skaner do 125Hz
- przełomowy tryb PeakForce Tapping
- zautomatyzowany stolik próbek
- AutoMET – automatyzacja pomiaru serii próbek
- automatyczne ustawianie detektora oraz lasera na sondzie
- pełna kompatybilność z głowicą Icon
-
Dimension Icon
Najbardziej zaawansowany i uniwersalny mikroskop sił atomowych na świecie.
- najwyższe rozdzielczości dla wszystkich trybów pracy i środowisk
- unikalny tryb PeakForce Tapping
- ScanAsyst: optymalizacja parametrów skanowania
- automatyzacja pomiarów
- DataCube: zapis danych z wielu trybów w każdym pikselu
- rozbudowa o dowolne tryby SPM
- duży zakres ruchu stolika i skanera
-
Dimension Edge
Mikroskop AFM przeznaczony do dużych próbek dla zastosowań przemysłowych.
- kontroler NanoDrive
- przełomowy tryb PeakForce Tapping
- głowica skanująca z systemem close loop (90 x 90 x 10 µm)
- zautomatyzowany stolik próbek (150mm)
- ScanAsyst: optymalizacja kluczowych parametrów skanowania
- modułowa konstrukcja: możliwość rozbudowy o tryby badawcze i akcesoria
-
MultiMode 8-HR
Mikroskop AFM do małych próbek o najwyższej rozdzielczości obrazowania.
- najnowszy kontroler NanoScope 6
- przełomowy tryb PeakForce Tapping
- wysokorozdzielcze mapowanie właściwości mechanicznych, elektrycznych
- PeakForce-HR – 6x szybsze skanowanie niż konwencjonalny AFM
- wymienne skanery – od 400 nm do 125 µm
- możliwość rozbudowy o dowolne tryby badawcze SPM
-
Innova
Budżetowy i kompaktowy mikroskop AFM o wszechstronnych możliwościach.
- wysokorozdzielcza kolorowa optyka w układzie Top Down
- rutynowe wysokorozdzielcze obrazowanie AFM
- unikalny system linearyzacji skanowania w zamkniętej pętli
- skaner: XY 90um x 90um, Z 7,5um
- programowy selektor eksperymentów
- TERS: opcja ze spektrometr. Ramana
- modułowa konstrukcja: opcje rozbudowy o tryby badawcze i akcesoria
-
JPK NanoRacer
Najszybszy AFM na świecie do obserwacji dynamiki procesów w skali molekularnej.
- szybkość skanowania: >5000 Hz, 50 klatek/s
- nanometryczna rozdzielczość
- obrazowanie w czasie rzeczywistym
- wyjątkowe osiągi dla próbek biologicznych
- dynamika procesów biologicznych, interakcje biomolekularne
- obrazowanie żywych układów biologicznych: molekuły, wirusy, białka
- opcja wzbudzenia fototermicznego
-
nanoIR
Mikroskop AFM-IR do obrazowania w podczerwieni z wysoką rozdzielczością.
- pomiar AFM lokalnych zmian wysokości próbki pod wpływem światła IR
- przestrajalny laser kaskadowy
- wysokorozdzielcze rezonansowe obrazowanie IR (10 nm) i AFM (kilka Å)
- informacje chemiczne (IR) i topograficzne (AFM)
- mapowanie chemiczne
- rozdzielczość spektralna IR do 1 cm-1
- rejestracja sygnału z głębokości do 30 nm
- opcja mikroskopii SNOM
Skontaktuj się z nami!
Potrzebujesz ofertę lub więcej informacji? Nie wiesz, czy technika AFM spełni Twoje oczekiwania? Potrzebujesz wybrać lub porównać model? Masz niestandardowe zastosowania lub próbki? Napisz lub zadzwoń do nas.
