Labsoft Industrial Solutions

Labsoft dystrybutor Bruker

Oferujemy nie tylko nowoczesne urządzenia, ale też pełne wsparcie techniczne, analityczne i biznesowe.
Naszym celem jest realne zwiększenie efektywności procesów i poprawa konkurencyjności firm, z którymi współpracujemy.

Naszą siłą jest wieloletnie doświadczenie i zaangażowanie zespołu specjalistów, którzy znają rynek analitycznych urządzeń rentgenowskich od podszewki.

Dbamy o to, by nasi Klienci mogli liczyć na szybki i skuteczny serwis techniczny. Nasze działania koncentrują się na błyskawicznej reakcji, trafnej diagnozie problemu oraz działaniach prewencyjnych, które zapewniają długą i bezawaryjną pracę urządzeń.

Nasze zasoby to:

Zespół Sprzedaży i Zespół Wsparcia Technicznego w Warszawie,
Inżynierowie serwisu działający w całej Polsce,
Bruker Support Center w Warszawie, który wspiera technicznie i analitycznie Klientów oraz serwisantów w całej Europie Środkowo-Wschodniej.

DYFRAKTOMETRY RENTGENOWSKIE

Innowacyjne modułowe platformy do badań strukturalnych i fazowych każdego rodzaju próbek metodą dyfrakcji rentgenowskiej.

Dyfraktometr XRD D6 PHASER
- najbardziej wszechstronny benchtop XRD
- dyfrakcja proszkowa, GID, reflektrometria (XRR), naprężenia, tekstura, PDF
- 0D-1D-2D LYNXEYE – szybkie i niezawodne detektory
- różnorodność stolików na próbki
- 12-pozycyjny zmieniacz próbek
- DBO – dynamiczna optymalizacja wiązki
Dyfraktometr XRD D8 ADVANCE
- DAVINCI.DESIGN – system beznarzędziowej obsługi komponentów oraz automatycznego rozpoznawaniai wykrywania potencjalnych kolizji elementów optyki
- 0D-1D-2D LYNXEYE i EIGER2 – szybkie i niezawodne detektory
- DIFFRAC.TOPAS – najbardziej stabilne oprogramowanie do analizy ilościowej
- TWIN lub TRIO – systemy modułowej optyki niewymagającej justowania
- DBO – dynamiczna optymalizacja wiązki
Dyfraktometr XRD D8 DISCOVER
- DAVINCI.DESIGN – system beznarzędziowej obsługi komponentów oraz automatycznego rozpoznawania i wykrywania potencjalnych kolizji elementów optyki
- 0D-1D-2D LYNXEYE i EIGER2 – szybkie i niezawodne detektory
- DIFFRAC.TOPAS – najbardziej stabilne oprogramowanie do analizy ilościowej
- TWIN lub TRIO – systemy modułowej optyki nie wymagającej justowania
- DBO – dynamiczna optymalizacja wiązki
- UMC – rozbudowane stoliki 3- i 5-osiowe
- Goebel Mirror – najmniejsza rozbieżność wiązki na rynku
Dyfraktometr SC-XRD D8 QUEST
- PHOTON III – rewolucyjny detektor z maksymalną wydajnością kwantową dla promieniowania wysokoenergetycznego.
- bardzo niska paralaksa, brak martwych punktów, 3-letnia gwarancja, brak strat w zliczaniu – najlepsza liniowość
- KAPPA i FIXED-CHI – najdokładniejsze goniometry na rynku
- najmniejsza sfera przecinania, największa precyzja, najprostsze centrowanie kryształu – technologia opracowana w kooperacji z AGH
- IµS DIAMOND II – źródło microfocus z intensywnością rotującej anody
- APEX4 – najdokładniejsze oprogramowanie do krystalografii
Dyfraktometr SC-XRD D8 VENTURE
- PHOTON III – rewolucyjny detektor z maksymalną wydajnością kwantową dla promieniowania wysokoenergetycznego.
- bardzo niska paralaksa, brak martwych punktów, 3-letnia gwarancja, brak strat w zliczaniu – najlepsza liniowość
- KAPPA i FIXED-CHI – najdokładniejsze goniometry na rynku
- najmniejsza sfera przecinania, największa precyzja, najprostsze centrowanie kryształu – technologia opracowana w kooperacji z AGH
- IµS DIAMOND II – źródło microfocus z intensywnością rotującej anody
- APEX4 – najdokładniejsze oprogramowanie do krystalografii
- VENTURE HE – dostosowane do zastosowań wysokoenergetycznych

Skontaktuj się z nami!

Szukasz informacji o produktach Bruker AXS? Użytkujesz dyfraktometr Bruker AXS? Potrzebujesz wsparcia aplikacyjnego? Napisz lub zadzwoń do nas.

Formularz kontaktu

Jakub Banaszek

Menedżer Działu, Doradca Techniczny

SPEKTROMETRY RENTGENOWSKIE

Zaawansowane urządzenia do badań składu jakościowego i ilościowego wszelkiego rodzaju próbek litych, ciekłych i proszkowych metodą XRF do zastosowań naukowo-badawczych oraz przemysłowych.

Spektrometr EDXRF S2 PUMA Series 2
- zakres analityczny od C do Am, od ppm do 100%
- lampa 50 W oraz technologia HighSense™ pozwalają na osiągnięcie doskonałych parametrów wzbudzenia lekkich pierwiastków
- trzy media pomiarowe: powietrze, hel i próżnia optymalizują warunki pomiarowe
- detektor SDD o doskonałej rozdzielczości energetycznej i największej dostępnej na rynku liczbie kanałów pozwala na osiągnięcie niższych limitów detekcji oraz znacznie skraca czas pomiaru
- system SampleCare™ chroniący kluczowe elementy spektrometru przed zanieczyszczeniem
- analiza próbek o niewielkich rozmiarach poprzez zastosowanie kolimatorów o średnicach od 28 mm do 1 mm
- spektrometr dostępny jest w trzech różnych konfiguracjach: jednopozycyjny, z 12 pozycyjną karuzelą umożliwiający analizę próbek o nieregularnych kształtach oraz z 20 pozycyjnym podajnikiem
Spektrometr EDXRF S2 POLAR
- spektrometr dedykowany do analiz próbek petrochemicznych
- lampa 50 W, technologia HighSense™ oraz zastosowanie spolaryzowanej wiązki pozwalają na osiągnięcie ultra niskich limitów detekcji dla siarki
- system SampleCare™ chroniący kluczowe elementy spektrometru przed zanieczyszczeniem i rozlaniem próbki
- spełniający normy: ASTM: D4294, D6481, D7751, D7220, ISO: 13032, 20847, 8754
Spektrometr WDXRF S6 JAGUAR
- spektrometr WDXRF typu benchtop
- analiza od O do Am w zakresie od ppm do 100%
- lampa 400 W oraz prąd do 17mA pozwalają na osiągnięcie doskonałych parametrów wzbudzenia lekkich pierwiastków
- zastosowanie detektorów: proporcjonalnego oraz HighSense™ XE zapewniających najlepszą na rynku rozdzielczość i liniowość do 2 Mcps
- kompaktowy goniometr WDXRF w połączeniu ze ściśle sprzężoną optyką zapewniają doskonałą dokładność i precyzję
Spektrometr WDXRF S8 TIGER series 3
- analiza w zakresie od B do Am, w zakresie od ppm do 100% (wzbudzenie 4kW, 170mA)
- detektory – scyntylacyjny i przepływowy o najlepszej dostępnej na rynku liniowości aż do 12Mcps (z HighSense XE)
- technologia HighSense™ zapewniająca optymalne parametry wzbudzenia i detekcji i umożliwiająca osiągnięcie niższych limitów detekcji zarówno dla pierwiastków lekkich jak i ciężkich
- SensorBoost™ signal processing eliminuje ograniczenia liczby zliczeń i nasycania detektorów.
- system Soft Shut Down™ eliminujący możliwości nagłego wyłączenia lampy bez jej uprzedniego schłodzenia
- systemy SampleCare™ i Touch Control™ chroniące kluczowe elementy spektrometru przed zanieczyszczeniem
- rewolucyjny system zarządzania próbkami EasyLoad™ z kamerą wykorzystującą AI
- funkcja XRF2 umożliwia mapowanie analizowanej powierzchni próbki i tworzenie map dystrybucji pierwiastków
- unikalny system SafeGuard™ rejestrujący w chmurze pełną auto-diagnostykę urządzenia – “czarna skrzynka” usprawniająca serwis

Skontaktuj się z nami!

Szukasz informacji o produktach Bruker AXS? Użytkujesz spektrometr XRF Bruker AXS? Potrzebujesz wsparcia aplikacyjnego? Napisz lub zadzwoń do nas.

Formularz kontaktu

Jakub Banaszek

Menedżer Działu, Doradca Techniczny

INNE TECHNIKI POMIAROWE dla PRZEMYSŁU

Wiele urządzeń naukowo-badawczych możemy skonfigurować do rutynowych analiz opartych o normy przemysłowe i zastosować w kontroli jakości w warunkach produkcyjnych.

Tribolab HD
System do szybkich przemysłowych badań nowych materiałów ciernych
- Wysoki moment obrotowy do badań tarcia przy dużych obciążeniach i prędkościach
- Pełne testy dynamometryczne połączone z badaniem emisji cząstek stałych (PM1, PM2.5, PM10)
- Bezpośrednie ogrzewanie w celu utrzymania temperatury podczas testów zaniku
- Symulacja testów SAE J2522 dla dróg uniwersalnych
- Dedykowane oprogramowanie do badań klocków hamulcowych
- Monitoring temperatury badanych elementów
- Intuicyjne oprogramowanie i modułowa obsługa.
Hysitron TS 77 Select
Niezbędny zestaw do charakterystyki mechanicznej i tribologicznej materiałów.
- pomiar zgodny z normami ISO 14577 i ASTM E2546
- dynamiczna nanoindentacja
- skaner piezoelektryczny
- w pełni zautomatyzowane pomiary
- obrazowanie SPM in-situ
- mapowanie XPM: do 2 indentów/sec
- przetwornik pojemnościowy o niskim dryfcie termicznym
- antywibracyjna obudowa ochronna
- uniwersalny system mocowania próbek
Profilometry CONTOUR X
- - pomiar chropowatości zgodnie z normą ISO 25178
  - wysoka rozdzielczość pionowa i poprzeczna
  - badanie próbek o współczynniku odbicia od 0,05%
  - stolik do małych i średnich próbek
  - detektor: kamera o rozdzielczości 5MP
  - unikalny tryb pomiarowy USI
  - moduł tip/tilt w stoliku lub w głowicy
  - automatyzacja zależna od modelu
  - szeroki zakres zastosowań
  - modele X-100, X-200, X-500, X-1000
Układy chłodzenia w obiegu zamkniętym
Szeroka gama urządzeń chłodzących w obiegu zamkniętym.
- europejski producent LABTECH (Italy)
- zakres mocy chłodzącej od 500 do 5000W
- wersje jedno i 3 fazowe
- dostępne obudowy tłumiące hałas
- zastosowanie w XRF, XRD, ICP-OES, AAS-GF,
  Mikroskopy elektronowe, destylarki i wiele innych
- lokalny serwis techniczny
Układy antywibracyjne
Seria TS to kompaktowe układy aktywnej izolacji drgań mechanicznych TS firmy Table Stable do umieszczenia na stołach.
- tłumienie drgań od 0,7 Hz
- szeroki zakres warunków pracy: temperatura 5-40°C, wilgotność 10-90%
- powierzchnia robocza: ciągła lub z otworami, aluminium lub stal nierdzewna
- bardzo niska emisja ciepła i fal el.-magn.
- bez użycia sprężonego powietrza
- modele o nośności od 40 do 300 kg
- do izolacji LM, AFM, profilometrów, interferometrów, μ/nanotwardościomierzy
- ekspertyza HWL Scientific Instr. GmbH
Strefy czyste
Moduły i komory firmy Spetec GmbH do wydzielania i izolowania stref czystych w laboratoriach.
- nawiewy laminarne z wydajnym wentylatorem i łatwym do wymiany filtrem
- przenośne komory laminarne o powierzchni od 0,24 do 1,12 m²
- komory laminarne ze zintegrowaną powierzchnią roboczą ze stali lub laminatu
- wydzielone przestrzenie czyste do 300 m² bez prac budowlanych
- czystość do klasy ISO 5
- rozwiązania, konstrukcja, kształty i materiały dostosowane do potrzeb klienta
Platformy nanopozycjonujące
Platformy do precyzyjnego pozycjonowania i wymiarowania obiektów.
- najbardziej precyzyjne platformy na rynku
- pozycjonowanie w 3 osiach z korekcją odchyleń kątowych
- kontrola położenia stolika z obiektem interferometrami
- zakres 25x25x5 mm z dokładnością do 0,1 nm
- procesor DSP do odczytu sygnałów i sterowania napędami
- sondy pomiarowe do technik LFS, AFM, WLI i 3D Micro Probe
- model NMM-1 i NPP do większych próbek