Profilometry

Profilometry do obrazowania topografii powierzchni

BRUKER NANO

Główne modele, stykowy Dektak i optyczny Contour, są rozwijane i udoskonalane od wielu lat. Ich dokładność, powtarzalność i niezawodność, nieosiągalne dla innych, to złoty standard w laboratoriach naukowych i metrologicznych.

Profilometry

 

  • Dektak

    Złoty standard w profilometrii stykowej rozwijany od ponad 50 lat.

    • bardzo szybki czas skanowania
    • wysoka rozdzielczość pionowa (1 Å) i powtarzalność (4 Å)
    • sztywna konstrukcja zapewniająca wyjątkową stabilność
    • szybka, łatwa i beznarzędziowa wymiana stylusów
    • szeroki wybór stylusów
    • Nlite+: niskie obciążenia dla kruchych i delikatnych próbek
    • intuicyjne oprogramowanie Vision64
    • wersja nastołowa (XT) i wolnostojąca z pełną izolacją mechniczną (XTL)
  • Contour X-1000

    W pełni automatyczny profilometr optyczny rozwijany od ponad 30 lat.

    • bardzo wysoka rozdzielczość pionowa i powtarzalność
    • zintegrowana izolacja antywibracyjna
    • podwójne źródło oświetlenia i laserowa wiązka referencyjna
    • moduł tip/tilt w głowicy
    • automatyzacja: wyszukiwanie, ogniskowanie, dobór parametrów i pomiar
    • szeroki wybór uchwytów
    • algorytm Acuity XR: bardzo wysoka rozdzielczość poprzeczna
    • gotowe procedury pomiarowe i analityczne
  • seria Contour X

    Nastołowe profilometry optyczne o różnym stopniu automatyzacji.

    • wysoka rozdzielczość pionowa i poprzeczna
    • badanie próbek o współczynniku odbicia od 0,05%
    • stolik do małych i średnich próbek
    • detektor: kamera o rozdzielczości 5MP
    • unikalny tryb pomiarowy USI
    • moduł tip/tilt w stoliku lub w głowicy
    • automatyzacja zależna od modelu
    • szeroki zakres zastosowań
    • modele X-100, X-200X-500

     

  • Platforma NPFLEX-1000

    Platforma do precyzyjnych, optycznych pomiarów 3D dużych próbek.

    • pomiary elementów o zróżnicowanych kształtach i masie do 77 kg
    • duża szybkość, łatwość i precyzja pomiarów
    • wysoka automatyzacja
    • dostęp do trudnych lokalizacji: otwory do 150 mm, ściany nachylone do 70°
    • obrotowa głowica pomiarowa
    • specjalistyczne obiektywy i lustra
    • szeroki zakres stolików próbek
    • automatyczny stitching
    • zintegrowana izolacja antywibracyjna

Skontaktuj się z nami!

Potrzebujesz ofertę lub więcej informacji? Nie wiesz czy potrzebujesz profilometr optyczny czy stykowy? Chcesz wybrać lub porównać model? Masz niestandardowe zastosowania lub próbki? Napisz lub zadzwoń do nas.

Formularz kontaktu

  • Jakub Banaszek

    Jakub Banaszek

    Menedżer Działu, Doradca Techniczny

  • Niniejsza strona korzysta z plików cookies. Niektóre z plików cookies są niezbędne do prawidłowego funkcjonowania strony i w związku z tym nie można z nich zrezygnować. W przypadku wyrażenia zgody pliki cookies stosowane są również w celu poprawy komfortu korzystania z serwisu, integracji serwisu z treściami dostarczanymi przez zewnętrznych dostawców i w celu śledzenia aktywności użytkowników dla potrzeb marketingowych. Wyrażona zgoda jest dobrowolna i można ją w dowolnym momencie wycofać, dokonując zmiany w ustawieniach przeglądarki. Wycofanie zgody pozostanie bez wpływu na zgodność z prawem używania plików cookies, którego dokonano na podstawie zgody przed jej wycofaniem.
    Administratorem danych osobowych użytkowników niniejszej strony jest Labsoft Sp. z o.o. z siedzibą w Warszawie, ul. Puławska 469, 02-844 Warszawa. Więcej informacji na temat przetwarzania danych osobowych i plikach cookie zawartych jest w Polityce Prywatności.