Spektrometry do badania składu powierzchni
Nasze spektrometry to kompletne systemy do badania powierzchni zawierające nie tylko XPS, ale również szereg innych technik, takich jak UPS, ISS, REELS czy AES. Dają one informacje nie tylko o wiązaniach chemicznych, ale również o właściwościach elektronowych powierzchni.
Spektrometry XPS
-
System K-alpha
Prosty w obsłudze system przeznaczony wyłącznie dla techniki XPS.
- monochromatyczne źródło Kα
- rozmiar wiązki rentgenowskiej: 50-400 mikrometrów
- 2-wiązkowa kompensacja ładunku
- analiza w punkcie, wzdłuż linii i w obszarze
- szybkie mapowanie
- profilowanie wgłębne jonami Ar+
- badania z rozdzielczością kątową (AR-XPS)
-
System NEXSA
System XPS zintegrowany ze spektrometrem Ramana i innymi technikami.
- monochromatyczne źródło AlKα
- rozmiar wiązki <10 µm
- różne techniki mapowania (obrazowania)
- techniki UPS, ISS, REELS
- zintegrowany spektrometr Ramana
- profilowanie wgłębne: monoatomowe i klastrowe działo Ar+
- wysoka automatyzacja
-
System ESCALAB QXi
System do badania powierzchni wieloma technikami, w tym z możliwościami HXPES.
- monochromatyczne źródło Al Kα i Ag L
- działo z podwójną anodą
- techniki: UPS, REELS, ISS, AES (FEG), AR-XPS, EDS
- argonowe działo klastrowe
- 2-wiązkowa kompensacja ładunku
- obrazowanie XPS z rozdzielczością do 2 µm
- komora preparatyczna
Skontaktuj się z nami!
Czy interesuje Cię skład pierwiastkowy, chemiczny czy molekularny? Czy wymagane rozdzielczości to nanometry czy mikrometry? Czy do profilowania jonowego potrzebujesz działa klastrowego? Które techniki pomocnicze uwzględnić? Napisz lub zadzwoń do nas.
